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關(guān)于USIM卡的全面測(cè)試綜述

文章出處:http://5052h112.com 作者: 人氣: 發(fā)表時(shí)間:2012年02月21日

[文章內(nèi)容簡(jiǎn)介]:本文就USIM相關(guān)的USIM/ME接口一致性測(cè)試、Cu接口USAT測(cè)試、USIM一致性測(cè)試從測(cè)試內(nèi)容、測(cè)試依據(jù)規(guī)范以及測(cè)試所需儀表進(jìn)行了相應(yīng)介紹。

    近年來移動(dòng)通信的飛速發(fā)展,特別是第三代移動(dòng)通信技術(shù)的逐漸成熟備受世人關(guān)注。隨著3G技術(shù)在世界范圍內(nèi)越來越多的國(guó)家實(shí)現(xiàn)商用,其業(yè)務(wù)方面的魅力正逐漸顯現(xiàn)。就WCDMA和TD-SCDMA接入技術(shù)而言,二者均繼承了GSM機(jī)卡分離的技術(shù)特點(diǎn),這就意味著作為移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)接入點(diǎn)的UE(User Equipment)是ME設(shè)備(Mobile Equipment)與USIM卡的綜合體,其邏輯結(jié)構(gòu)見圖1。為了保證UE與網(wǎng)絡(luò)間的正常通信及業(yè)務(wù)實(shí)現(xiàn),通過對(duì)ME與USIM卡間的Cu接口進(jìn)行全面的測(cè)試驗(yàn)證能夠保證二者作為一個(gè)整體協(xié)同工作。

移動(dòng)終端/用戶設(shè)備的邏輯結(jié)構(gòu)

圖1 移動(dòng)終端/用戶設(shè)備的邏輯結(jié)構(gòu)

    USIM是通用用戶身份識(shí)別模塊(Universal Subsciber Identity Module)的簡(jiǎn)稱,其物理實(shí)體為通用集成電路卡(Universal Integrated Circuit Card),即UICC,而USIM實(shí)際上是建立在UICC上的一種主要用于終端用戶身份識(shí)別的應(yīng)用。UICC卡分為ID-1 UICC和Plug-in UICC兩類,其區(qū)別主要在于物理外形尺寸及應(yīng)用環(huán)境。目前一般3G終端中使用的是后者——插入式UICC,它實(shí)現(xiàn)了平臺(tái)和應(yīng)用的分離。USIM應(yīng)用只是UICC平臺(tái)上的第一個(gè)應(yīng)用,而像電子簽名一類的非電信應(yīng)用或電信增值應(yīng)用,均可以建立在此平臺(tái)之上。除此之外,由于USIM卡中存儲(chǔ)著用于用戶身份驗(yàn)證、鑒權(quán)加密以及系統(tǒng)登錄的重要信息,因此USIM在安全機(jī)制,鑒權(quán)方式等方面也有了進(jìn)一步的加強(qiáng)和完善。隨著USIM功能的不斷增強(qiáng),針對(duì)USIM以及Cu接口的測(cè)試也變得日益重要和復(fù)雜,這方面的相關(guān)測(cè)試主要包括:USIM/ME接口一致性測(cè)試;(Cu)接口USAT測(cè)試以及USIM一致性測(cè)試。

    USIM/ME接口一致性測(cè)試(一級(jí)標(biāo)題)

    USIM/ME接口一致性測(cè)試的主要目的是保證終端與USIM間的信息交互符合相關(guān)測(cè)試規(guī)范的要求,通過觀察Cu接口的信令交互過程及針對(duì)各種電氣指標(biāo)的測(cè)試,驗(yàn)證終端與USIM卡協(xié)同工作的能力。USIM/ME接口一致性測(cè)試所依據(jù)的規(guī)范分為兩部分,分別是3GPP的TS31.121針對(duì)USIM/ME接口應(yīng)用特性方面的一致性測(cè)試和ETSI的TS 102 230針對(duì)終端與USIM在電氣、邏輯特性等方面的一致性測(cè)試。

    USIM/ME接口一致性測(cè)試是通過對(duì)USIM的模擬,驗(yàn)證終端在與USIM配合工作時(shí),其行為是否和協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的相一致,這部分測(cè)試關(guān)系到終端能否在現(xiàn)實(shí)網(wǎng)絡(luò)中正常工作,因此是運(yùn)營(yíng)商和手機(jī)廠家都非常關(guān)注的一項(xiàng)測(cè)試。以歐洲權(quán)威的認(rèn)證機(jī)構(gòu)GCF(Global Certification Forum)為例,目前GCF通過對(duì)測(cè)試項(xiàng)目重要程度的判斷,將其要求的所有測(cè)試項(xiàng)目分為7個(gè)級(jí)別(Batch),其中USIM/ME接口一致性測(cè)試與射頻一致性測(cè)試及部分協(xié)議一致性測(cè)試一起被列入了第一優(yōu)先級(jí),也就說WCDMA或TD-SCDMA終端若想得到歐洲各大運(yùn)營(yíng)商的認(rèn)可,順利進(jìn)入歐洲市場(chǎng)就必須通過USIM/ME接口一致性測(cè)試,其重要程度可見一斑。

    1.USIM/ME接口一致性測(cè)試:應(yīng)用特性方面

    對(duì)于USIM/ME接口應(yīng)用特性方面的一致性測(cè)試的主要測(cè)試內(nèi)容包括:

    * 簽約相關(guān)過程測(cè)試:主要針對(duì)IMSI/TMSI的處理過程及接入控制的處理過程進(jìn)行測(cè)試。
    * 安全相關(guān)過程測(cè)試:主要針對(duì)終端在PIN的處理、FDN的處理、BDN的處理以及AoC的處理等方面的信令流程進(jìn)行測(cè)試。
    * 簽約無關(guān)過程測(cè)試:包括電話本處理過程、短消息處理報(bào)告等。

    USIM/ME接口應(yīng)用特性方面的一致性測(cè)試所需測(cè)試儀表的功能要求是對(duì)USIM應(yīng)用進(jìn)行模擬并能夠?qū)u接口的消息流程進(jìn)行實(shí)時(shí)的跟蹤和顯示,同時(shí)利用Uu接口的測(cè)試儀表進(jìn)行輔助的監(jiān)測(cè),測(cè)試環(huán)境如圖2所示。

Cu接口測(cè)試環(huán)境(一)

 圖2 Cu接口測(cè)試環(huán)境(一)

    USIM卡模擬器提供各測(cè)試項(xiàng)所需的USIM卡中的測(cè)試數(shù)據(jù)文件,模擬USIM卡各種正常和異常的操作過程、信號(hào)或數(shù)據(jù)輸出。終端直接對(duì)USIM模擬器進(jìn)行操作,USIM卡模擬器監(jiān)視Cu接口的信號(hào)和數(shù)據(jù)流,終端對(duì)USIM卡的數(shù)據(jù)讀寫操作結(jié)果可以通過USIM卡模擬器來確認(rèn)。

    對(duì)于不要求USIM卡進(jìn)行異常操作的測(cè)試用例,還可以采用真實(shí)的USIM卡進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試系統(tǒng)配置如圖3,包含的測(cè)試設(shè)備包括:USIM卡、USIM卡讀寫器、Cu接口監(jiān)視器、終端以及系統(tǒng)模擬器。終端直接對(duì)真實(shí)的USIM進(jìn)行操作,在操作過程中,通過Cu接口監(jiān)視器監(jiān)視Cu接口的信號(hào)和數(shù)據(jù)流,終端對(duì)USIM卡中數(shù)據(jù)的讀寫操作結(jié)果通過USIM卡讀寫器讀取USIM卡中的文件來驗(yàn)證。各測(cè)試項(xiàng)所需的USIM卡中的測(cè)試數(shù)據(jù)可以通過USIM卡讀寫器寫入到USIM卡中。

Cu接口測(cè)試環(huán)境(二)

 圖3 Cu接口測(cè)試環(huán)境(二)

    2.USIM/ME接口一致性測(cè)試:電氣、邏輯特性方面

    對(duì)于USIM/ME接口電氣、邏輯特性方面的一致性測(cè)試的主要測(cè)試內(nèi)容包括:

    * UICC-終端接口的電氣特性測(cè)試;
    * 初始通信測(cè)試;
    * 傳輸協(xié)議測(cè)試;
    * 獨(dú)立于應(yīng)用的程序等。

    對(duì)于電氣和邏輯特性的Cu接口一致性測(cè)試不需要系統(tǒng)模擬器的配合,其他測(cè)試設(shè)備與應(yīng)用特性測(cè)試基本一致。

    UICC-終端(Cu)接口USAT測(cè)試

    USAT(USIM應(yīng)用工具箱)是USIM Application Toolkit的縮寫,這部分測(cè)試主要關(guān)注UICC-終端(Cu)接口的USAT應(yīng)用特性,其目的是為了保證終端與USIM的互操作性。

    在不支持USAT的傳輸協(xié)議中,終端總是處于控制地位,發(fā)送指令給UICC,UICC則不能發(fā)送指令給終端,這限制了引入U(xiǎn)ICC的新特性。為了解決此類問題,在Cu接口的協(xié)議棧中引入U(xiǎn)SAT協(xié)議層,USAT層在傳輸層提供的服務(wù)基礎(chǔ)之上提供了一種服務(wù)機(jī)制,允許UICC應(yīng)用與支持這種機(jī)制的終端進(jìn)行交互和操作,使得UICC可以主動(dòng)要求終端執(zhí)行某個(gè)操作。支持USAT的Cu接口的協(xié)議棧如圖4所示。

支持USAT功能的Cu接口協(xié)議棧

圖4 支持USAT功能的Cu接口協(xié)議棧

    USAT通過一組指令(TERMINAL PROFILE、FETCH、主動(dòng)式指令、ENVELOPE、TERMINAL RE-SPONSE、狀態(tài)字SW1 SW2“91 XX”或“93 00”)實(shí)現(xiàn)這種服務(wù)機(jī)制。支持USAT功能的UICC應(yīng)支持上述指令。

    對(duì)于終端來說USAT為可選功能,支持USAT功能的終端和UICC在Cu接口上的過程包括:終端的PROFILE下載過程;主動(dòng)式UICC會(huì)話過程;Envelope命令過程以及主動(dòng)輪詢過程。

    UICC-終端(Cu)接口USAT測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)是3GPP TS 31.111(ETSI TS 131 111),國(guó)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化工作也正在進(jìn)行中。根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目以及測(cè)試數(shù)據(jù)跟蹤采集的要求,本部分測(cè)試所需要的儀表與USIM/ME接口一致性測(cè)試基本一致。主要的測(cè)試內(nèi)容包括:

    * Profile下載的處理
    * 主動(dòng)式指令測(cè)試
    * ENVELOPE指令測(cè)試

    UICC-終端(Cu)接口USAT測(cè)試雖然目前還未被GCF列為正式的準(zhǔn)入測(cè)試項(xiàng)目,但隨著3G業(yè)務(wù)與應(yīng)用的進(jìn)一步發(fā)展,USAT的應(yīng)用勢(shì)必日益廣泛??梢哉fUSAT的應(yīng)用為電信增值業(yè)務(wù)搭建了一個(gè)廣闊的平臺(tái)。

    USIM一致性測(cè)試

    USIM一致性測(cè)試主要是對(duì)USIM卡的物理特性及應(yīng)用特性所進(jìn)行的測(cè)試,其目的是驗(yàn)證USIM卡的基本特性是否與規(guī)范的要求一致,以保證USIM卡的適用性和可靠性,應(yīng)該說這部分測(cè)試是專門針對(duì)USIM卡的基本測(cè)試。

    關(guān)于USIM的物理、電氣特性的技術(shù)要求依據(jù)規(guī)范ETSI TS102.221,關(guān)于應(yīng)用特性的技術(shù)要求依據(jù)規(guī)范3GPP 31.102。USIM一致性測(cè)試所依據(jù)的測(cè)試規(guī)范是3GPP TS31.122,所需測(cè)試設(shè)備主要包括:ME模擬器;觸電壓力測(cè)試設(shè)備;溫度可控設(shè)備;溫度測(cè)量設(shè)備;電壓測(cè)量設(shè)備等等。主要測(cè)試內(nèi)容如下:

    * 物理特性測(cè)試
    * 電氣特性測(cè)試
    * 初始通信建立流程測(cè)試
    * 傳輸協(xié)議測(cè)試
    * 應(yīng)用及文件格式測(cè)試
    * 安全特性測(cè)試
    * USIM指令測(cè)試
    * UICC特性測(cè)試

    目前,USIM一致性測(cè)試并沒有被國(guó)際上比較權(quán)威的認(rèn)證組織列為必測(cè)項(xiàng)目,這一方面是由于USIM/ME接口一致性測(cè)試已經(jīng)全面驗(yàn)證了終端與標(biāo)準(zhǔn)USIM模擬器的配合情況,進(jìn)而保證了終端與網(wǎng)絡(luò)的良好互通;另一方面,從測(cè)試性質(zhì)來說,本部分測(cè)試更適合用做USIM提供商的內(nèi)部測(cè)試。

    小結(jié)

    本文就USIM相關(guān)的測(cè)試內(nèi)容、測(cè)試依據(jù)規(guī)范以及測(cè)試所需儀表進(jìn)行了相應(yīng)介紹。在以業(yè)務(wù)和應(yīng)用為主旋律的3G時(shí)代,基于USIM卡的應(yīng)用將會(huì)更加廣泛,通過對(duì)USIM進(jìn)行全面測(cè)試可以提高和加強(qiáng)卡與終端的一致性,為3G豐富多彩的業(yè)務(wù)提供可靠的保證。

本文關(guān)鍵詞:USIM卡,USIM,接口測(cè)試,接口USAT測(cè)試,測(cè)試
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